非接觸式光學(xué)輪廓儀Taylor Hobson

• 更新時間：2019-08-01
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非接觸式光學(xué)輪廓儀Taylor Hobson
CCI光學(xué)裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。

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無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI*的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件

良好的光學(xué)干涉測量技術(shù)
 • 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
 • 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
 • 1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
 • 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù)

從實質(zhì)上消除測量的不確定性
 • RMS重復(fù)性小于0.2埃，臺階高度重復(fù)性小于0.1%
  • 整個測量量程有著0.1埃分辨率
 • FEA優(yōu)化機械設(shè)計，具備出色的R&R能力
 • 采用ISO標準的校準，確保結(jié)果的可信度

高性能的CCI MP是科研和制造*的測量手段。

大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對極為粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運營或研究項目時刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測量要求。高級數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓(xùn)成本
即便不常使用，也無需對操作員重新進行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計便于科學(xué)家、學(xué)生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時間、減少錯誤并快速得出所需結(jié)果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到極大提高。也不需要測量模式間進行復(fù)雜的切換，以及測量過程中校準鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。

篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起，以共同對計量及試驗技術(shù)的專注和專業(yè)，致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域，為客戶提供區(qū)域化和化的廣泛而的技術(shù)支持服務(wù)，確保操作和維護儀器的總體有效性和成本優(yōu)化，增強您測量和檢測的可靠性和性能。